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  • GT-BIR-65T大連高溫老化柜
    GT-BIR-65T大連高溫老化柜

    大連高溫老化柜是武漢格特為大連用戶(hù)設(shè)計(jì)的一款老化柜,采用上下獨(dú)立溫控,內(nèi)部總?cè)萘繛?*6設(shè)計(jì)布局,內(nèi)部隔離為兩部分,每部分3*3 設(shè)計(jì)布局。

    更新日期:2025-03-05型號(hào):GT-BIR-65T
  • GT-HX系列定制實(shí)驗(yàn)室老化柜
    GT-HX系列定制實(shí)驗(yàn)室老化柜

    定制實(shí)驗(yàn)室老化柜以其高精度溫度控制、大容量與靈活性、良好的安全性、智能化與自動(dòng)化以及耐用與穩(wěn)定等特點(diǎn),在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。它能夠滿(mǎn)足不同實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試需求,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性,為產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制提供有力支持。

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-HX系列
  • GT-BIR-61B小型高溫老化柜
    GT-BIR-61B小型高溫老化柜

    小型高溫老化柜是一種在實(shí)驗(yàn)室或小型生產(chǎn)線(xiàn)中常用的新型智能化控制設(shè)備。它可以根據(jù)需要定制,以適應(yīng)不同大小和形狀的電子產(chǎn)品和零件。它配備了智能控制系統(tǒng),能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制和數(shù)據(jù)記錄,廣泛適用于實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)線(xiàn)、科研和開(kāi)發(fā)領(lǐng)域。

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-BIR-61B
  • GT-HG-N01移動(dòng)電源老化柜
    GT-HG-N01移動(dòng)電源老化柜

    移動(dòng)電源老化柜是一種專(zhuān)門(mén)用于進(jìn)行移動(dòng)電源老化測(cè)試的設(shè)備。其主要功能是模擬實(shí)際使用環(huán)境中的充放電過(guò)程,對(duì)移動(dòng)電源進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間、高負(fù)載的老化測(cè)試和評(píng)估。這種設(shè)備通常具備多個(gè)通道,可以同時(shí)連接和測(cè)試多個(gè)移動(dòng)電源設(shè)備,以提高測(cè)試效率。

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-HG-N01
  • GT-HG-11N充電寶高溫老化柜
    GT-HG-11N充電寶高溫老化柜

    充電寶高溫老化柜是一種專(zhuān)門(mén)用于進(jìn)行充電寶高溫老化測(cè)試的設(shè)備。它通過(guò)模擬高溫環(huán)境,對(duì)充電寶進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間充放電循環(huán)測(cè)試,以評(píng)估充電寶在高溫條件下的性能和可靠性。這種設(shè)備通常具備多通道設(shè)計(jì),可以同時(shí)連接和測(cè)試多個(gè)充電寶設(shè)備,提高測(cè)試效率。在測(cè)試過(guò)程中,充電寶老化柜可以實(shí)時(shí)監(jiān)控輸出電壓、電流、功率等參數(shù),確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-HG-11N
  • GT-HX-S2LED電子屏老化柜
    GT-HX-S2LED電子屏老化柜

    LED電子屏老化柜是一種專(zhuān)用于LED電子屏老化測(cè)試的設(shè)備。該設(shè)備采用*的技術(shù)和控制方法,為L(zhǎng)ED電子屏提供高溫、高濕、高塵等惡劣環(huán)境下的老化測(cè)試條件,以評(píng)估其耐久性和穩(wěn)定性。

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-HX-S2
  • GT-HX-G2顯示屏高溫老化柜
    GT-HX-G2顯示屏高溫老化柜

    顯示屏高溫老化柜是一種專(zhuān)門(mén)用于顯示屏高溫老化測(cè)試的設(shè)備。該設(shè)備采用*的溫度控制系統(tǒng)和加熱技術(shù),能夠?yàn)轱@示屏提供高溫、高濕、高塵等惡劣環(huán)境下的老化測(cè)試條件,以評(píng)估顯示屏的耐久性和穩(wěn)定性。

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-HX-G2
  • GT-BIR-06AORT高溫老化柜
    GT-BIR-06AORT高溫老化柜

    ORT高溫老化柜是一種專(zhuān)門(mén)用于半導(dǎo)體和其他電子設(shè)備可靠性測(cè)試的設(shè)備。它通過(guò)在高溫條件下對(duì)設(shè)備進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的老化測(cè)試,以模擬設(shè)備在實(shí)際使用環(huán)境中可能遇到的高溫情況,從而評(píng)估設(shè)備的可靠性、穩(wěn)定性和壽命。

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-BIR-06A
  • GT-BIR-66A半導(dǎo)體高溫老化柜
    GT-BIR-66A半導(dǎo)體高溫老化柜

    半導(dǎo)體高溫老化柜,也稱(chēng)為ORT高溫老化柜,是一種專(zhuān)門(mén)用于半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試的設(shè)備。它通過(guò)模擬高溫、高濕、高壓等惡劣環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的老化處理,以評(píng)估其在實(shí)際使用環(huán)境中的性能表現(xiàn)和可靠性

    更新日期:2024-11-21型號(hào):GT-BIR-66A
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